JPSPEC T350 Plus, metal yüzeylerde kaplama analizi, RoHS kapsamında element taraması ve malzeme bileşiminin belirlenmesi için geliştirilmiş çok amaçlı bir X-Işını Floresans (XRF) analiz cihazıdır.

Mikro odaklı X-ışını tüpü, Si-PIN yarı iletken dedektör, geliştirilmiş FP analiz algoritması ve otomatik geçişli çoklu kolimatör sistemi sayesinde farklı numune ve uygulamalarda hızlı, hassas ve tahribatsız analiz imkânı sunar.

T350 Plus; üretim kalite kontrolünden giriş kalite kontrole, elektronik komponentlerden metal kaplamalara kadar geniş bir uygulama alanında kullanılabilir. Üretici tarafından cihaz özellikle kaplama analizi, RoHS analizi ve element analizi için çok amaçlı bir XRF spektrometre olarak konumlandırılmaktadır. 

Çok Amaçlı XRF Analiz Sistemi

T350 Plus tek bir cihaz üzerinden üç temel analiz ihtiyacına çözüm sunar:

Kaplama Analizi: Metal yüzeylerde bulunan kaplama tabakalarının ve bileşiminin tahribatsız şekilde değerlendirilmesini sağlar.

RoHS Analizi: Elektronik, elektrik ve çeşitli endüstriyel ürünlerde RoHS kapsamında kontrol edilmesi gereken elementlerin hızlı taramasına olanak tanır.

Element Analizi: Malzemelerin element bileşimlerinin XRF teknolojisi kullanılarak belirlenmesini sağlar.

T350 Plus'ın element analiz aralığı S (Kükürt, atom numarası 16) ile U (Uranyum, atom numarası 92) arasındadır. Kaplama analizi için belirtilen element aralığı ise Cl (Klor, 17) – U (92) şeklindedir.

5 Katmana Kadar Kaplama Analizi

T350 Plus analiz yazılımı aynı anda 5 kaplama katmanına ve 24 farklı elemente kadar analiz gerçekleştirebilir. Bu özellik, çok katmanlı metal kaplama yapılarının kalite kontrolünde önemli avantaj sağlar.

Çok katmanlı kaplamaların değerlendirilmesi özellikle elektronik komponentler, metal parçalar, konektörler, bağlantı elemanları ve kaplama proseslerinin kontrolünde kullanılabilir.

Geliştirilmiş FP Analiz Algoritması

Cihazda geliştirilmiş FP (Fundamental Parameters – Temel Parametreler) algoritması kullanılmaktadır.

FP yaklaşımı, XRF spektrumundan elde edilen verilerin farklı kaplama ve malzeme yapılarına göre değerlendirilmesini sağlayarak rutin analizlerin hızlı ve verimli şekilde gerçekleştirilmesine yardımcı olur. 

Mikro Odaklı X-Işını Tüpü

JPSPEC T350 Plus, mikro odaklı X-ışını tüpü ile donatılmıştır.

X-ışını ışını cihaz içerisinde aşağıdan yukarıya doğru uygulanır. Bu sistem, numunenin analiz bölgesinin kontrollü biçimde ışınlanmasına ve ortaya çıkan karakteristik floresans sinyallerinin dedektör tarafından ölçülmesine olanak sağlar.

Si-PIN Yarı İletken Dedektör

T350 Plus modelinde Si-PIN yarı iletken dedektör kullanılmaktadır.

Dedektör, numuneden yayılan karakteristik X-ışını floresans sinyallerini algılayarak elementlerin belirlenmesi ve kaplama analizinin gerçekleştirilmesini sağlar.

Otomatik Çoklu Kolimatör Sistemi

Cihaz farklı numune boyutları ve analiz bölgelerine uyum sağlamak amacıyla birden fazla kolimatör seçeneğine sahiptir:

Ø0,3 mm / Ø0,5 mm / Ø1,2 mm / Ø3 mm

Kolimatörler arasında otomatik geçiş yapılabilmesi, farklı büyüklükteki analiz alanlarının aynı cihazla incelenmesini kolaylaştırır.

HD CCD Kamera ile Numune Görüntüleme

T350 Plus'ta endüstriyel HD CCD kamera bulunmaktadır. Kamera sistemi sayesinde analiz yapılacak numune ve ölçüm bölgesi görüntülenebilir.

Cihaz 30× optik büyütme özelliğine sahiptir ve odaklama işlemi manuel olarak gerçekleştirilebilir. Böylece küçük komponentlerin ve belirli bir bölgeden analiz yapılması gereken numunelerin doğru şekilde konumlandırılması kolaylaşır.

Opsiyonel Hassas Hareketli Platform

T350 Plus, ihtiyaç halinde yüksek hassasiyetli hareketli numune platformu ile yapılandırılabilir.

Opsiyonel hareketli platform özellikle bir numunenin farklı bölgelerinden ardışık ölçüm yapılması gereken kalite kontrol ve Ar-Ge uygulamalarında kullanım kolaylığı sağlar.

RoHS Analizi

RoHS analizi T350 Plus'ın standart fonksiyonları arasında yer almaktadır. Üretici verilerine göre RoHS uygulamalarında algılama limiti uygun koşullarda 2 ppm seviyesine kadar ulaşabilmektedir. 

Bu özellik özellikle elektrik-elektronik ürünler, komponentler, plastikler, metal parçalar ve hammaddelerin hızlı tarama uygulamalarında kullanılabilir.

Teknik Özellikler

Öne Çıkan Özellikler

• Kaplama + RoHS + element analizi tek cihazda
• Tahribatsız XRF ölçüm teknolojisi
• S (16) – U (92) element analiz aralığı
• Cl (17) – U (92) kaplama analiz aralığı
• 5 katmana kadar eş zamanlı kaplama analizi
• 24 elemente kadar eş zamanlı analiz
• RoHS analizinde 2 ppm'e kadar algılama limiti
• Geliştirilmiş FP analiz algoritması
• Mikro odaklı X-ışını tüpü
• Si-PIN yarı iletken dedektör
• 0–50 kV programlanabilir yüksek voltaj sistemi
• Dört farklı otomatik kolimatör seçeneği
• HD CCD kamera
• 30× optik büyütme
• Opsiyonel yüksek hassasiyetli hareketli platform
• Çoklu radyasyon güvenlik sistemi