JPSPEC | T450 Plus – Çok Amaçlı XRF Kaplama Kalınlığı ve Element Analiz Cihazı
JPSPEC T450 Plus, yüksek hassasiyetli kaplama kalınlığı ölçümü, RoHS taraması ve malzeme element analizi için geliştirilmiş profesyonel bir X-Işını Floresans (XRF) analiz cihazıdır.
Üretim kalite kontrolü ve Ar-Ge çalışmalarında kullanılmak üzere tasarlanan T450 Plus; mikro odaklı geliştirilmiş X-ışını tüpü, yüksek performanslı Si-PIN yarı iletken dedektör, geliştirilmiş FP analiz algoritması, çoklu otomatik kolimatör sistemi ve mikron seviyesinde hareketli numune platformunu bir araya getirir.
Cihaz yalnızca kaplama kalınlığı ölçümü gerçekleştirmekle kalmaz; aynı zamanda element analizi ve RoHS uygunluk kontrollerinde de kullanılabilir. Böylece farklı analiz ihtiyaçları için ayrı cihazlar kullanma gereksinimini azaltan çok amaçlı bir XRF çözümü sunar.
Kaplama Kalınlığı, RoHS ve Element Analizi Tek Cihazda
T450 Plus serisi üç temel analiz uygulamasını destekler:
Kaplama kalınlığı analizi: Çok katmanlı metal kaplamaların tahribatsız olarak analiz edilmesini sağlar.
Element analizi: T450 Plus konfigürasyonunda S (Kükürt, Z=16) – U (Uranyum, Z=92) arasındaki elementlerin analizini destekler.
RoHS analizi: Ürün ve hammaddelerin RoHS kapsamında kontrolü için kullanılabilir. T450 Plus için belirtilen RoHS algılama limiti 2 ppm seviyesine kadar ulaşabilmektedir.
15 Katmana Kadar Kaplama Analizi
JPSPEC analiz yazılımı, aynı ölçümde 15 katmana kadar kaplama yapısının ve 24 farklı elementin analizini desteklemektedir.
Bu özellik özellikle;
Au/Ni/Cu, Sn/Ni/Cu, Ni/Cu, Zn/Ni/Fe gibi çok katmanlı metal kaplama sistemlerinin kontrolünde önemli avantaj sağlar.
Kaplama tabakalarının ayrı ayrı değerlendirilmesi sayesinde üretim prosesinde kaplama kalitesinin, kalınlığının ve malzeme bileşiminin daha detaylı kontrol edilmesine yardımcı olur.
Mikro Odaklı X-Işını Teknolojisi
T450 Plus, üretici tarafından geliştirilen yüksek stabiliteli mikro odaklı X-ışını tüpü ve odaklama optik sistemi kullanır.
Sistem ile minimum ölçüm noktası yaklaşık 0,25 mm seviyesine kadar düşürülebilir. Bu sayede küçük elektronik komponentler, pinler, konektörler ve lokal kaplama bölgelerinde hassas analiz gerçekleştirilebilir.
Otomatik Çoklu Kolimatör Sistemi
Cihazda farklı numune ve analiz gereksinimlerine göre kullanılabilen:
Ø0,2 / Ø0,3 mm, Ø0,5 mm ve Ø3 mm
kolimatör seçenekleri bulunmaktadır. Sistem çoklu kolimatörler arasında otomatik geçiş sağlayacak şekilde tasarlanmıştır.
Bu yapı hem küçük ölçüm noktalarının hem de daha geniş analiz alanlarının aynı cihaz ile incelenmesine olanak sağlar.
Hassas Numune Görüntüleme
T450 Plus, HD endüstriyel CCD kamera ile donatılmıştır. Numune üzerindeki analiz noktası kamera üzerinden görüntülenerek doğru bölge hassas şekilde seçilebilir.
Optik büyütme 30–50×, dijital büyütme ise 40–160× seviyesine ulaşabilmektedir. Mikron seviyesinde hareket kabiliyetine sahip platform ile küçük numunelerin konumlandırılması kolaylaştırılmıştır.
Girinti ve Farklı Geometrilerde Ölçüm
T450 Plus'ta kullanılan zoom/telafi algoritması, yalnızca düz yüzeylerde değil, farklı geometrilere ve girintilere sahip parçaların analizinde de avantaj sağlar.
Üretici bilgilerine göre sistem 0–25 mm arasındaki girinti derinliklerine sahip parçaların tahribatsız analizine yönelik olarak geliştirilmiştir.
Bu özellik konektörler, elektronik parçalar ve karmaşık geometrili metal komponentlerin kalite kontrolünde özellikle önemlidir.
Teknik Özellikler
| Teknoloji | Enerji Dağılımlı X-Işını Floresan - XRF |
| Temel Uygulamalar | Kaplama kalınlığı, element analizi, RoHS analizi |
| Element Analiz Aralığı | S (16) - U (92) |
| Kaplama Analiz Aralığı | Li (3) - U (92) |
| RoHS Analizi | Standart |
| RoHS Algılama Limiti | 2 ppm seviyesine kadar |
| Analiz Algoritması | Geliştirilmiş FP algoritması |
| Kaplama Analiz Kapasitesi | Aynı anda 15 katmana kadar |
| Element Kapasitesi | 24 elemente kadar |
| X-Işını Yönü | Aşağıdan yukarıya |
| X-Işını Kaynağı | Mikro odaklı geliştirilmiş X-Işını tüpü |
| Dedektör | Yüksek performanslı Sİ-PIN yarı iletken dedektör |
| Yüksek Voltaj | 0-50 kV akıllı programlanabilir yüksek voltaj sistemi |
| Kolimatör | ∅ 0,3 mm (∅ 0,2 mm) / ∅ 0,5 mm / ∅ 3 mm |
| Kolimatör Kontrolü | Çoklu otomatik geçiş |
| Minimum Ölçüm Noktası | Yaklaşık 0,25 mm |
| Numune Görüntüleme | Endüstriyel HD CCD kamera |
| Odaklama | Manuel |
| Optik Büyütme | 30-50x |
| Dijital Büyütme | 40-160x |
| Numune platformu | Mikron hassasiyetli hareketli platform |
| Girinti Analiz kapasitesi | 0-25 mm |
| Çalışma Sıcaklığı | 10-35°C |
| Çalışma Nemi | ≤ %70 RH |
| Güç Kaynağı | AC 220 V ± 5 V |
| Soğutma | Çok yönlü ısı dağıtım sistemi |
| Güvenlik | Çoklu X-ışını radyasyon güvenlik sistemi |
| Analiz Şekli | Tahribatsız |
T450 Plus'ın Öne Çıkan Özellikleri
- 3'ü 1 arada analiz: Kaplama kalınlığı + element analizi + RoHS kontrolü
- 15 katmana kadar kaplama analizi
- 24 elemente kadar eş zamanlı analiz desteği
- 0,25 mm'ye kadar küçük ölçüm noktası
- Mikro odaklı X-ışını tüpü
- Geliştirilmiş FP analiz algoritması
- Otomatik çoklu kolimatör sistemi
- HD CCD kamera ile hassas numune konumlandırma
- 30–50× optik ve 40–160× dijital büyütme
- Mikron seviyesinde hareketli platform
- 0–25 mm girintili parçaların analizi
- Numuneye zarar vermeyen tahribatsız XRF teknolojisi
Kullanım Alanları
T450 Plus; elektronik ve yarı iletken endüstrisi, PCB ve konektör üretimi, elektrokaplama tesisleri, metal kaplama sanayi, otomotiv yan sanayi, takı ve değerli metal uygulamaları, bağlantı elemanları, metal işleme, hammadde kontrolü, RoHS uygunluk kontrolü, kalite kontrol ve Ar-Ge laboratuvarlarında kullanılabilir.
Özellikle Au/Ni/Cu, Sn/Ni/Cu gibi çok katmanlı kaplama sistemlerinin kontrolünde ve küçük elektronik parçaların lokal analizinde mikro odaklı yapısı önemli avantaj sağlar.