JPSPEC | T450 XRF Kaplama Kalınlığı Ölçüm ve Analiz Cihazı
0,00 TL
T450 XRF Kaplama Kalınlığı Ölçüm ve Analiz Cihazı
JPSPEC T450, metal yüzeyler üzerindeki kaplamaların kalınlığının hızlı, hassas ve tahribatsız şekilde analiz edilmesi amacıyla geliştirilmiş masaüstü bir XRF (X-Işını Floresans) kaplama analiz cihazıdır.Mikro odaklı X-ışını tüpü, Si-PIN yarı iletken dedektör, yüksek hassasiyetli XY hareketli platform ve HD endüstriyel kamera sistemi sayesinde numune üzerinde hedeflenen ölçüm noktasının hassas şekilde belirlenmesine olanak sağlar.Elektrokaplama, metal işleme, elektronik, bağlantı elemanları, otomotiv yan sanayi, mücevher, değerli metal ve kalite kontrol uygulamalarında kaplama kalınlığının kontrolü için kullanılabilir.
Tahribatsız XRF Kaplama AnaliziT450, X-ışını floresans teknolojisini kullanarak numuneye fiziksel olarak zarar vermeden analiz gerçekleştirebilir. Bu özellik özellikle bitmiş ürünlerin, değerli parçaların ve seri üretimden alınan numunelerin kalite kontrolünde önemli avantaj sağlar.
Numunenin kesilmesine, aşındırılmasına veya kimyasal olarak hazırlanmasına ihtiyaç duyulmadan kaplama kontrolü gerçekleştirilebilmesi, rutin kalite kontrol işlemlerinin daha hızlı ve verimli yürütülmesine yardımcı olur.
Hassas Numune Konumlandırma
Cihazda bulunan yüksek hassasiyetli XY hareketli platform, analiz yapılacak bölgenin doğru şekilde konumlandırılmasını sağlar.
Entegre HD endüstriyel kamera ile numune ve ölçüm noktası bilgisayar ekranından takip edilebilir. Böylece küçük parçalar veya yalnızca belirli bir bölgesi analiz edilmesi gereken numunelerde ölçüm noktasının hassas şekilde seçilmesi mümkün olur.
Mikro Odaklı X-Işını Sistemi
T450, küçük ölçüm alanlarında hassas analiz yapılmasını destekleyen mikro odaklı X-ışını tüpü ile donatılmıştır.
Sistem için farklı uygulama gereksinimlerine bağlı olarak Ø0,2 mm, Ø0,3 mm veya Ø0,5 mm optik kolimatör seçeneklerinden biri kullanılabilir.
Küçük ölçüm noktası sayesinde elektronik komponentler, bağlantı elemanları, kaplanmış metal parçalar ve küçük yüzey alanlarının analizinde avantaj sağlar.
Si-PIN Yarı İletken Dedektör
T450 modelinde XRF sinyallerinin algılanması için Si-PIN yarı iletken dedektör kullanılmaktadır.
Dedektör, numuneden yayılan karakteristik X-ışını floresans sinyallerinin algılanmasını sağlayarak kaplama analizinin gerçekleştirilmesine yardımcı olur.
JPSPEC XRF Kaplama Analiz Yazılımı
Cihaz, JPSPEC X-Ray Fluorescence Coating Analysis Software V1.0 yazılımı ile çalışır.
Bilgisayar kontrollü sistem sayesinde ölçüm işlemlerinin yönetilmesi, analiz sonuçlarının değerlendirilmesi ve ölçüm verilerinin görüntülenmesi kolaylaştırılır.
Kullanım Alanları
T450 özellikle elektrokaplama ve yüzey işlem tesisleri, metal işleme sanayi, elektronik ve elektrik komponentleri, bağlantı elemanları, otomotiv yan sanayi, değerli metal ve mücevher uygulamaları, üretim kalite kontrol laboratuvarları, üniversiteler ve Ar-Ge laboratuvarları için uygundur.
Kaplanmış metal parçaların üretim ve kalite kontrol süreçlerinde hızlı ve tahribatsız analiz yapılmasına yardımcı olur.
Teknik Özellikler
| Analiz Teknolojisi | X-Işını Floresans (XRF) | ||
| Analiz Yöntemi | Tahribatsız | ||
| Temel Uygulama | Metal yüzeylerde kaplama / plating analizi | ||
| X-Işını Kaynağı | Mikro odaklı geliştirilmiş X-ışını tüpü | ||
| Dedektör | Si-PIN yarı iletken dedektör | ||
| Kolimatör Seçenekleri | ∅ 0,2 mm / ∅ 0,3 mm / ∅ 0,5 mm - konfigürasyona göre bir adet | ||
| Numune Konumlandırma | Yüksek hassasiyetli XY hareketli platform | ||
| Görüntüleme | HD endüstriyel kamera | ||
| Sinyal İşleme | Çok kanallı analizör | ||
| Kontrol Sistemi | Ana kontrol paneli | ||
| Soğutma Sistemi | Entegre soğutma sistemi | ||
| Yüksek Voltajı Sistemi | Dahili | ||
| Ekran / Kontrol | Bilgisayar üzerinden | ||
| Yazılım |
|
||
| Çalışma Frekansı |
|
||
| Güç Kaynağı |
|
||
| Çalışma Yapısı | Yarı Otomatik | ||
| Ambalaj Ölçüsü | 78 x 70 x 70 cm |
Öne Çıkan Avantajlar
- Tahribatsız analiz: Ölçüm sırasında numunenin kesilmesi, aşındırılması veya zarar görmesi gerekmez.
- Hassas ölçüm noktası seçimi: Mikro odaklı X-ışını sistemi ve küçük çaplı kolimatör seçenekleri sayesinde küçük yüzeylerde analiz yapılabilir.
- XY hareketli platform: Numunenin analiz bölgesinin hassas şekilde konumlandırılmasını sağlar.
- HD kamera desteği: Ölçüm yapılacak noktanın bilgisayar ekranından görüntülenmesini ve doğru bölgenin seçilmesini kolaylaştırır.
- Bilgisayar kontrollü çalışma: Analizlerin JPSPEC yazılımı üzerinden yönetilmesine imkan verir.
- Kalite kontrol uygulamalarına uygun: Kaplama proseslerinin kontrolü, giriş kalite kontrolü ve son ürün kontrollerinde kullanılabilir.
