JPSPEC | T650 – Tam Otomatik XRF Kaplama Kalınlığı Analiz Cihazı
JPSPEC T650 – Tam Otomatik XRF Kaplama Kalınlığı Analiz Cihazı
JPSPEC T650, metal yüzeylerde kaplama kalınlığının hızlı, hassas ve tahribatsız olarak analiz edilmesi için geliştirilmiş yüksek performanslı, tam otomatik bir X-Işını Floresans (XRF) kaplama kalınlığı analiz cihazıdır.
Yüksek stabiliteli mikro odaklı X-ışını tüpü, Si-PIN yarı iletken dedektör, dijital çok kanallı sinyal işleme teknolojisi, geliştirilmiş FP algoritması, otomatik XY hareketli numune platformu ve geniş odaklama aralığı sayesinde tek ve çok katmanlı kaplamaların yanı sıra karmaşık geometrili parçaların analizinde kullanılabilir. T650 ayrıca katı numunelerin yanında uygun aksesuar kullanılarak elektrokaplama banyosu çözeltilerinin analizini de destekler.
Tam Otomatik Çok Noktalı Ölçüm
T650'nin önemli özelliklerinden biri yüksek hassasiyetli tam otomatik hareketli numune platformudur. Sistem, bir numune üzerindeki farklı ölçüm noktalarının otomatik olarak konumlandırılmasına olanak tanır.
Bu özellik; PCB'ler, konektörler, elektronik komponentler ve üzerinde çok sayıda kontrol noktası bulunan küçük parçaların seri kalite kontrolünde ölçüm sürecinin hızlandırılmasına yardımcı olur. Numune tablası 230 × 230 mm boyutundadır.
Girintili ve Karmaşık Geometrili Parçalarda Ölçüm
T650, özel zoom ve odaklama sistemi sayesinde yalnızca düz yüzeylerin değil, girintili ve farklı geometrilere sahip parçaların da analizine uygundur.
Sistemin odaklama/zoom mesafesi 0–85 mm aralığındadır ve Z ekseni hareket mesafesi 170 mm'dir. Böylece standart masaüstü XRF sistemlerinde konumlandırılması zor olabilecek komponentlerin analizinde daha yüksek esneklik sağlanır.
Mikro Odaklı X-Işını Sistemi
Cihazda yüksek stabiliteli mikro odaklı geliştirilmiş X-ışını tüpü bulunmaktadır. Yüksek entegrasyonlu dikey optik sistem, küçük ölçüm noktalarına hassas şekilde odaklanarak lokal kaplama analizlerinin gerçekleştirilmesini sağlar.
Standart olarak Ø0,3 mm kolimatör kullanılmaktadır; konfigürasyona göre Ø0,2 mm veya Ø0,5 mm seçeneklerinden biri tercih edilebilir.
Si-PIN Yarı İletken Dedektör
T650, Si-PIN yarı iletken dedektör ile donatılmıştır. Üretici verilerinde dedektör enerji çözünürlüğü 129 eV ±5 eV seviyesine kadar belirtilmektedir.
Dijital çok kanallı sinyal işleme teknolojisiyle birlikte çalışan sistem, XRF spektrumunun hassas şekilde işlenmesini ve kaplama katmanlarının değerlendirilmesini sağlar.
Geliştirilmiş FP Analiz Algoritması
T650'de üretici tarafından geliştirilen geliştirilmiş FP (Fundamental Parameters / Temel Parametreler) algoritması kullanılmaktadır.
Yazılım; çok katmanlı ve çok elementli kaplamaların analizini destekler. Tek tuşla analiz yapılabilen kullanıcı arayüzü ölçüm sonucunu otomatik olarak oluştururken, sistem aynı zamanda hata, kalibrasyon ve operasyon adımlarına ilişkin yönlendirmeler sağlayabilir.
Tek ve Çok Katmanlı Kaplama Analizi
T650; tek katmanlı, çok katmanlı kompozit, alaşım ve tekrarlanan kaplama sistemlerinin analizinde kullanılabilir.
Üretici tarafından verilen örnek uygulamalar arasında Au/Ni/CuZn, NiP/Al, ZnNi/Fe ve Cr/Ni/Cu/CuZn gibi kaplama yapıları bulunmaktadır. Kaplama analizinde element aralığı Li (3) – U (92) olarak belirtilmiştir.
Katı ve Sıvı Numune Analizi
T650 yalnızca katı kaplanmış parçaların değil, uygun numune hazırlama ve aksesuarlarla çözeltilerin de analizini destekler.
Bu özellik özellikle elektrokaplama proseslerinde kullanılan banyoların kontrolünde avantaj sağlayabilir. Elektrokaplama sıvıları için ölçüm kabı opsiyonel aksesuar olarak sunulmaktadır. Sistem kalitatif, yarı kantitatif ve kantitatif analiz uygulamalarını destekler.
Teknik Özellikler
| Analiz Teknolojisi | X-Işını Floresans - XRF |
| Kaplama Analiz Element Aralığı | Li (3) - U (92) |
| Analiz Yöntemi | Tahribatsız |
| Analiz Yazılımı | Geliştirilmiş FP algoritması |
| Analiz Süresi | 20 - 300 saniye |
| X-Işını Kaynağı | Yüksek stabiliteli mikro odaklı geliştirilmiş X-ışını tüpü |
| Dedektör Çözünürlüğü | 129 eV ±5 eV seviyesine kadar |
| Sinyal işleme | Dijital çok kanallı teknoloji |
| Yüksek voltaj sistemi | 0 - 50 kV akıllı programlanabilir |
| Standart Kolimatör | ∅ 0,3 mm |
| Kolimatör Seçenekleri | ∅ 0,2 / ∅ 0,3 / ∅ 0,5 mm |
| Zoom / Odaklama Aralığı | 0 - 85 mm |
| Z Ekseni Hareketi | 170 mm |
| Numune Görüntüleme | Endüstriyel HD CCD kamera |
| Odaklama | Yüksek hassasiyetli manuel odaklama |
| Optik Büyütme | 30x |
| Numune Platformu | Yüksek hassasiyetli tam otomatik hareketli platform |
| Numune platformu boyutu | 230 x 230 mm |
| Numune Tipi | Katı ve çözelti |
| Elektrokaplama Banyosu Analizi | Destekler |
| Çalışma Sıcaklığı | 15 - 30°C |
| Bağıl Nem | < %70 RH |
| Güç Kaynağı | AC 220 ±5 V |
| Güvenlik Sistemi | Çok yönlü ısı dağıtımı ve çoklu radyasyon güvenlik sistemi |
| Opsiyonel Aksesuar | Elektrokaplama sıvısı ölçüm kabı |
Öne Çıkan Özellikler
- Tam otomatik çok noktalı ölçüm platformu
- Li (3) – U (92) aralığında kaplama analizi
- Mikro odaklı yüksek stabiliteli X-ışını tüpü
- Si-PIN yarı iletken dedektör
- 0–85 mm zoom/odaklama mesafesi
- 170 mm Z ekseni hareket aralığı
- Ø0,2 / Ø0,3 / Ø0,5 mm kolimatör seçenekleri
- 30× optik büyütme ve HD CCD kamera
- Tek ve çok katmanlı kaplama analizi
- Alaşım ve tekrarlanan kaplama sistemlerinin analizi
- Katı ve sıvı numunelerde analiz
- Elektrokaplama banyosu analizi
- 20–300 saniye ayarlanabilir analiz süresi
- Geliştirilmiş FP analiz algoritması
- Tahribatsız XRF ölçüm teknolojisi
JPSPEC T650; otomotiv parçaları, PCB ve devre kartları, elektronik komponentler, konektör ve terminaller, tel ve kablo komponentleri, havacılık parçaları, sıhhi tesisat ve armatürler, metal kaplama ve elektrokaplama tesisleri, kalite kontrol laboratuvarları, giriş kalite kontrolü ve üretim proses kontrolü gibi uygulamalarda kullanılabilir.